Stolica naszego regionu gości metrologów z całej Europy. Najważniejsi przedstawiciele instytucji metrologicznych z krajów UE i krajów partnerskich wspólnoty spotkali się w Kielcach ramach dwudniowej konferencji poświęconej sztucznej inteligencji. Prelekcje odbywają się w siedzibie Muzeum Narodowego oraz na terenie Świętokrzyskiego Kampusu Laboratoryjnego GUM.
Konferencja wpisuje się w ciąg wydarzeń związanych z polską prezydencją w Unii Europejskiej. W spotkaniu uczestniczy dwudziestu reprezentantów, szefów narodowych instytutów metrologii z krajów UE oraz m.in. z Ukrainy czy Kazachstanu.
Wśród poruszanych podczas prelekcji tematów jest sztuczna inteligencja jako szansa i wyzwanie dla metrologii, jej rola w zaawansowanych technologiach produkcyjnych oraz wykorzystanie w pomiarach dla zdrowia. Jak zaznacza profesor Jacek Semaniak, prezes organizującego spotkanie Głównego Urzędu Miar, tematyka debaty jest uzasadniona, gdyż bez tego narzędzia znacznie trudniejsze byłoby m.in. analizowanie dużej ilości danych, co w metrologii jest powszechne.